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软X线领域层状复制衍射光栅

标准品型号刻线数波长范围检测器长度设计mount 参数外形尺寸镀膜λ1~λ2Nλ1~λ2Lrαr1'β1r2' β2ri'Βi W×H×T材质(条/mm)(nm)(mm)(mm)(deg.)(mm)(deg.)(mm)(deg.)(mm)(deg.)(mm)30-00124001~623.523...

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标准品


型号

刻线数

波长

范围

检测器

长度

设计mount 参数

外形

尺寸

镀膜

λ1~λ2

N

λ1~λ2

L

r

α

r1'

β1

r2' 

β2

ri'

Βi 

W×H×T

材质


(条/mm)

(nm)

(mm)

(mm)

(deg.)

(mm)

(deg.)

(mm)

(deg.)

(mm)

(deg.)

(mm)

30-001

2400

1~6

23.5

237

88.65

235.6

85.81

238.5

80.17

235

90.0

50×30×10

Au

30-002

1200

5~20

25.3

237

87

236.7

83

241.1

77.1

235

90.0

50×30×10

Au

30-003

2400

1~7

26.8

236.7

88.6

235.8

85.8

239.5

79.4

235

90.5

50×30×10

Au

30-004

2400

0.6~4

19.4

236.8

88.65

233.9

86.64

235.8

81.94

233.5

90.0

50×30×10

Au

30-005

1200

3.5~8.5

11.1

237

87.07

234.8

83.98

236.2

81.3

233.5

90.0

50×30×10

Ni

30-006

300

20-80

25.3

237.0

87.00

236.7

83.04

241.1

77.07

235.0

90.0

50×30×10

Au

 光栅的刻线是在树脂上完成的。

 结露是造成光学特性显著劣化的重要原因,应避免结露。


X线领域层状复制衍射光栅是一款适用于软x射线波段下的校正像差型凹面层状复制衍射光栅。通过离子刻蚀技术及全息曝光的工艺方法,可实际应用于像差校正型的平场多色仪上。